Agilent/HP/8509C/光偏振分析儀

詳細資料：

AGILENT 8509B光波極化分析儀可對光信號或光器件進行校準過的極化測試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎(chǔ)之上的.8509B可提供包括極化狀態(tài)測試、極化模式色散測試、極化相關(guān)損耗測試和極化保偏光纖對準等功能。

特點：

1.對光信號和光器件進行**的極化狀態(tài)分析

2.兩種PMD分析方法：波長掃描法和JONES矩陣法

3.極化保偏光纖的對準

Agilent 8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對光信號和元件進行寬工作范圍的測量。自動的測量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對準。對于10至40Gb/s測試，8509C可測量至0.01ps的偏振模式色散。對光信號和材料偏振特性的快速和準確的測量可幫助開發(fā)更高性能的光元件和系統(tǒng)，以及低成本的制造流程。

性能特性

? 波長工作范圍： 1280 nm 至 1640 nm ? 分辨率： 1 fs ? 偏振狀態(tài)測量速率： >3500 ∕秒 ? PMD 測量范圍： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取決于設(shè)置條件)

庫

技術(shù)指標： 8509C 技術(shù)指標 1.6 MB 小冊子： 需要測試 40 Gb/s 4.5 MB 產(chǎn)品指南：自動的在線消光比測量 467 KB

 

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