HP4286A的測(cè)量非???。此外,在小測(cè)試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。 系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近,而不會(huì)使誤差有任何增大。 內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。
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